Änderungen

Die Eigenschaften dieser „Chips“ wurden mit Hilfe der Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie (SEM), Röntgenspektroskopie (XEDS) und Differentialkalorimetrie (DSC) analysiert.  

Die Eigenschaften dieser „Chips“ wurden mit Hilfe der Lichtmikroskopie, Elektronenmikroskopie (SEM), Röntgenspektroskopie (XEDS) und Differentialkalorimetrie (DSC) analysiert.  

Den Studienautoren wurde methodische Schwächen angelastet. So gilt der Nachweis von elementarem Aluminium mit Methylethylketon (MEK) als unsicher, da er auch auf Aluminiumverbindungen anspricht. Auch hätte die Differentialkalorimetrie nicht in Luft sondern unter Schutzgas ablaufen müssen. Schutzanstriche und Rostschutzfarben wurden nicht zum Vergleich hinzugezogen, obwohl sie in einem NIST-Report ausführlich erwähnt werden und als grau-rote Partikel sehr wohl in Frage kommen da sie die gleichen chemischen Elemente wie die Analyse aufweisen.

Den Studienautoren wurde methodische Schwächen angelastet. Ob eine rasterelektronenmikroskopische Aufnahme Nanopartikel zeige, sei unsicher, da bei 20 KV Beschleunigungsspannung keine Nanopartikel nachweisbar sind. Eine "Röntgenspektroskopie" weist weder metallisches Aluminium noch Eisenoxid in ihrer strukturellen Zusammensetzung nach, sondern lediglich die Elemente an sich. So gilt auch der Nachweis von elementarem Aluminium mit Methyläthylketon Trennungen (MEK) als unsicher. Auch hätte die Differentialkalorimetrie nicht in Luft sondern unter Schutzgas ablaufen müssen. Schutzanstriche und Rostschutzfarben wurden nicht zum Vergleich hinzugezogen, obwohl sie in einem NIST-Report ausführlich erwähnt werden und als grau-rote Partikel sehr wohl in Frage kommen da sie die gleichen chemischen Elemente wie die Analyse aufweisen.

==Studienautoren==

==Studienautoren==